Smoltek Nanotech meddelar att dotterbolaget Smoltek Semi har nått en betydande milstolpe i utvecklingen av nästa generations CNF-MIM-kondensatorer. Resultat från den senaste prototypgenerationen, tillverkade med en avancerad dielektrisk stack bestående av zirkoniumoxid (ZrO₂) och aluminiumoxid (Al₂O₃), har enligt företaget visat exceptionell stabilitet under både temperatur- och spänningsbelastning.
– Detta är ett genombrott i vår CNF-MIM-prestanda. Kombinationen av CNF-elektroder med en zirkoniumoxid- och aluminiumoxid-stack utnyttjar inte bara den beprövade tillförlitligheten hos dielektrikum av DRAM-kvalitet, utan ger också exceptionella egenskaper för termisk stabilitet och spänningsstabilitet som överträffar vad som för närvarande erbjuds av de ultratunna multilayer-kondensatorer (MLCC:s) som idag används som landside-monterade avkopplingskondensatorer i avancerade processorer, säger Farzan Ghavanini, teknikchef på Smoltek.
Viktiga prestandaparametrar:
- Termisk stabilitet (TCC): De testade kondensatorerna bibehöll robust prestanda upp till 125 °C och uppvisade endast en kapacitansförändring på ~2,5 % från rumstemperatur (22 °C). Enligt Smoltrk observerades inga tecken på degradering, vilket understryker den dielektriska stackens hållbarhet och tillförlitlighet under ökad termisk belastning.
- Spänningsstabilitet (VCC): När kondensatorerna testades över ett bipolärt spänningsområde på ±4 V visade komponenterna endast en så liten förändring i kapacitans som ~3 %, vilket ytterligare validerade den dielektriska integriteten. Vid ett driftområde på 2 V – den nominella spänningen som representerar landsidesapplikationen – hölls kapacitansförskjutningen inom ~1 %, vilket enligt Smoltek belyser dessa komponenters lämplighet för högpresterande system.
Samma stack
Den avancerade dielektriska stacken, bestående av zirkoniumoxid (ZrO₂) och aluminiumoxid (Al₂O₃), som Smotek Semi använder i prototyperna är enligt Smoltek samma stack som används i kondensatorer för de flesta avancerade DRAM-tekniker.
I nästa steg kommer Smolteks CNF-MIM-kondensatorer att genomgå omfattande accelererade livslängdstester för att ytterligare validera deras långsiktiga tillförlitlighet under driftsförhållanden.
Om testet
TCC (Temperature Coefficient of Capacitance) avser förändringen i en kondensators kapacitans över ett temperaturområde, medan VCC (Voltage Coefficient of Capacitance) avser förändringen i kapacitans under applicerad likspänning. Att förstå båda är avgörande för val och tillämpning av kondensator, särskilt i kretsar där temperatur- eller spänningsvariationer kan påverka prestandan.
